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      X射線實時成像系統的射線能量

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      X射線實時成像系統的射線能量

      發布日期:2019-08-26 作者: 點擊:

        X射線實時成像系統對厚度差較大的工件,可以采用在一只暗盒里放兩張膠片同時透照的雙膠片技術。隨著管電壓的提高,底片上不同部位的黑度差將減小,這樣,在規定的黑度范圍內,可以容許更大的試件厚度變化范圍,即提高管電壓可以獲得更大的透照厚度寬容度。此外,對厚度變化的試件透照,提高管電壓可以減小散射比,降低邊蝕效應。

        但是射線能量提高后,衰減系數μ減小,從未會導致對比度減小,這一點對射線照相靈敏度不利。因此,管電壓不能任意提高,究竟管電壓提高多少比較合適,這是確定具體透照工藝需要研究的問題。暗盒里放置的兩張膠片一般應選用感光度不同的兩種膠片(異速雙片法),其中感光度較大的膠片適用于透照厚度較大部位的觀察評定。

        另一種是在暗盒中放置感光速度相同的兩張膠片(同速雙片),管片方法是對黑度較小部位,將雙片重疊觀察評定,對黑度較大部位,用單片觀察評定。透照操作應嚴格遵守工藝規定,操作程序、內容及有關要求簡述如下:試件上如有妨礙涉嫌穿透或妨礙貼片的附加物,如設備附件、保溫材料等,應盡可能去除。

        事件表面質量應經外觀檢查合格,如表面不規則狀態可能在底片上產生掩蓋焊縫中缺陷的圖像時,應對表面進行打磨休整。按照工藝文件規定的檢查部位、比例、一次透照長度,在工件上劃線。采用單壁透照時,需要在試件兩側(射線側和膠片側)同時劃線,并要求兩側所劃的線段應盡可能對準。采用雙壁單影透照時,只需在試件一側(膠片側)劃線。

        線型像質計應放在射源線側的工件表面上,位于被檢焊縫區的一端(被檢長度的1/4處),鋼絲橫跨焊縫并與焊縫方向垂直,細絲置于外側。只有在射源側無法放置像質計時,方可將其放在膠片側,但須進行對比試驗,使實際像質指數達到規定要求。像質計放膠片側時,應加放“F”標記,以示區別。

        按照標準和工藝的有關規定擺放像質計和各種鉛字標記。大厚度比對射線照相質量的不利影響主要表現在兩個方面:一是因試件厚度差較大導致底片黑度差較大,而底片黑度過低或過高都會影響射線照相靈敏度。二是因試件厚度變化導致散射比增大,產生邊蝕效應。試件厚度差異的大小可用試件厚度比來衡量,試件厚度比可定義為一次透照范圍內試件的大厚度與小厚度之比,用Ks表示。當Ks大于1.4時,可以認為屬于大厚度比試件。實際工作中的大厚度比試件包括余高較高的薄板對接焊縫試件、小口徑管試件、角焊縫試件,以及一些形狀較復雜的機械零件。


      X射線實時成像系統


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